22.02.2012
23.02.2012

28./29.02.2012

14./15.03.2011

03.04.2012
04.04.2012

02.05.2012
03.05.2012

23.05.2012
24.05.2012

12.06.2012
13.06.2012

10.07.2012
11.07.2012

03.09.2012
04.09.2012

25.09.2012
26.09.2012

08./09.10.2012

26.11.2012
27.11.2012

je
1 Tag

bzw.
2 Tage

Zürich
Zürich

TAW Wuppertal

TAE Ostfildern

Hamburg
Hamburg

Furtwangen
Furtwangen

Berlin
Berlin

Frankfurt
Frankfurt

München
München

Dresden
Dresden

Furtwangen
Furtwangen

TAW Altdorf

Dortmund
Dortmund

Workshop I "Testverfahren in der Elektronik"
Workshop II "Teststrategie-Optimierung"

Workshop "Testverfahren/Teststrategien"

Workshop "Testverfahren/Teststrategien"

Workshop I "Testverfahren in der Elektronik"
Workshop II "Teststrategie-Optimierung"

Workshop I "Testverfahren in der Elektronik"
Workshop II "Teststrategie-Optimierung"

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Workshop II "Teststrategie-Optimierung"

Workshop I "Testverfahren in der Elektronik"
Workshop II "Teststrategie-Optimierung"

Workshop I "Testverfahren in der Elektronik"
Workshop II "Teststrategie-Optimierung"

Workshop I "Testverfahren in der Elektronik"
Workshop II "Teststrategie-Optimierung"

Workshop I "Testverfahren in der Elektronik"
Workshop II "Teststrategie-Optimierung"

Workshop "Testverfahren/Teststrategien"

Workshop I "Testverfahren in der Elektronik"
Workshop II "Teststrategie-Optimierung

IPÜ Win – Schulung
IPÜ PLUS Win – Schulung
IQA Win – Schulung
TQSS Win – Schulung

auf Anfrage